機(jī)械封裝壓電陶瓷作為精密驅(qū)動(dòng)元件，封裝質(zhì)量直接影響其振動(dòng)性能與使用壽命。生產(chǎn)及使用過程中，常見的封裝缺陷需通過科學(xué)檢測(cè)及時(shí)發(fā)現(xiàn)，以避免設(shè)備失效。?
常見封裝缺陷主要有三類。一是界面氣泡與空洞，多因封裝膠涂抹不均或固化時(shí)排氣不全導(dǎo)致，會(huì)降低陶瓷與金屬外殼的結(jié)合強(qiáng)度，振動(dòng)時(shí)易產(chǎn)生局部應(yīng)力集中。二是封裝殼裂紋，常出現(xiàn)在邊角部位，多由封裝過程中機(jī)械應(yīng)力過大或材料韌性不足引發(fā)，裂紋擴(kuò)展可能導(dǎo)致陶瓷元件受潮或受沖擊損壞。三是引線焊接缺陷，包括虛焊、焊點(diǎn)開路等，會(huì)造成電信號(hào)傳輸不穩(wěn)定，表現(xiàn)為驅(qū)動(dòng)電壓異?；蜉敵龉β仕p。?
針對(duì)這些缺陷，需采用針對(duì)性檢測(cè)方法。對(duì)于界面氣泡，超聲探傷是高效手段：通過5-10MHz探頭掃描封裝體，氣泡會(huì)呈現(xiàn)明顯的回波信號(hào)，結(jié)合成像技術(shù)可定位缺陷位置及尺寸，檢測(cè)精度可達(dá)0.1mm級(jí)。檢測(cè)封裝殼裂紋時(shí)，滲透檢測(cè)更為適用，將熒光滲透劑涂抹于外殼表面，經(jīng)清洗、顯像后，裂紋處會(huì)顯現(xiàn)熒光痕跡，尤其適合檢測(cè)表面微裂紋。引線焊接缺陷則可通過電阻測(cè)試與紅外熱像儀結(jié)合排查：用萬用表測(cè)量焊點(diǎn)電阻，超過0.5Ω即可能存在虛焊；紅外熱像儀可捕捉焊點(diǎn)通電后的異常升溫，精準(zhǔn)識(shí)別接觸不良區(qū)域。?
此外，振動(dòng)測(cè)試能驗(yàn)證封裝整體可靠性。將壓電陶瓷接入額定電壓，在10-1000Hz頻率范圍內(nèi)掃頻振動(dòng)，通過激光測(cè)振儀監(jiān)測(cè)振幅均勻性，若出現(xiàn)異常波動(dòng)，可能是封裝松動(dòng)或內(nèi)部缺陷導(dǎo)致。對(duì)于批量生產(chǎn)的產(chǎn)品，還可采用氦質(zhì)譜檢漏檢測(cè)封裝密封性，當(dāng)漏率超過1×10??Pa?m³/s時(shí)，需重新密封處理。?
在實(shí)際檢測(cè)中，建議結(jié)合多種方法綜合判斷。例如，超聲探傷發(fā)現(xiàn)界面缺陷后，可通過振動(dòng)測(cè)試評(píng)估其對(duì)性能的影響程度。及時(shí)發(fā)現(xiàn)并處理封裝缺陷，能有效提升機(jī)械封裝壓電陶瓷的穩(wěn)定性，延長在超聲設(shè)備、精密閥門等場景中的使用壽命。
